掃描探針顯微鏡是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢測技術、精密機械設計和加工、自動控制技術、數字信號處理技術、應用光學技術、計算機高速采集和控制及高分辨圖形處理技術等現代科技成果的光、機、電一體化的高科技產品。

　　同類AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率，掃描探針顯微鏡具有很高的分辨率，實用性強，從器件表征到物理化學、生命科學、材料科學等方面都有廣泛應用。這是一套簡易的裝置，儀器成本合理，適用于科學研究。本設備具有的閉環掃描線性化系統，測量準確性，而且維持噪音水平接近開環的低噪音水平。

　　檢測樣品時，從亞微米級的小尺寸樣品到90微米的大尺寸樣品，都可進行實驗操作，且獲得原子級分辨率，測量不同尺寸樣品無需更換掃描器等硬件；替換探針或樣品等操作簡便易行；集成化高分辨率彩色光學系統和可編程自動化Z軸調節系統，可快速簡易地定位到待測區域聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，細胞表面形態觀察，生物大分子的結構及性質，數據存儲，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究，食品、化學品、護膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，陶瓷工藝，薄膜性能表征，地質、能源、環境等領域高分辨率。

　　其機電設計，包括帶有短機械路徑和低熱漂移的堅固顯微鏡平臺，超低噪音電子器件，都做了優化，具有高分辨率和閉環掃描的組合。利用的超低噪音數字閉環線性化掃描，不管掃描尺寸，偏移量，掃描速度或掃描角度的旋轉如何設置，對樣品均可準確測量，高分辨成像。

　　希望上述內容能夠幫助大家更好的了解本顯微鏡。